MDPmap單晶和多晶硅片壽命測量?jì)x被設計成一個(gè)緊湊的臺式非接觸電學(xué)表征工具,用于離線(xiàn)生產(chǎn)控制或研發(fā),在穩態(tài)或短脈沖激勵(μ-PCD)下,在一個(gè)寬的注入范圍內測量參數,如載流子壽命、光導率、電阻率和缺陷信息。自動(dòng)化的樣品識別和參數設置允許輕松適應各種不同的樣品,包括外延層和經(jīng)過(guò)不同制備階段的晶圓,從原生晶圓到高達95%的金屬化晶圓。
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