高分辨薄膜X射線(xiàn)衍射儀檢測
項目 | 細則 | 收費 | 說(shuō)明 |
Rocking Curve | 單一圖譜，30min 以?xún)?；若?過(guò) 30min，延長(cháng)時(shí)間按240元 /30min計，不足30min 按 30min計； 薄膜帶襯底材料的薄膜或帶 基材的鍍層等原始形狀，厚 度≤1mm，直徑≤2cm | 240元/樣 | 1.長(cháng)時(shí)間數據手機（大于5h）、復雜樣品等特殊測試，價(jià)格需面議； 2.原位測試需提供測試方法 |
2Theta/Omega Scan | 對稱(chēng)掃描單一圖譜，30min 以 內；掃描時(shí)間大于 30min，延 長(cháng)時(shí)間按240元/30min，不足 30min 按 30min 計 | 240元/樣 | |
2Theta/Omega Scan | 不對稱(chēng)掃描單一圖譜，30min 以?xún)?；掃描時(shí)間大于 30min， 延長(cháng)時(shí)間按 240元/30min計，不足 30min 按 30min 計 | 300元/樣 | |
Skew Scan | 不對稱(chēng)掃描單一圖譜，30min 以?xún)?；掃描時(shí)間大于 30min， 延長(cháng)時(shí)間按 240 元/30min計，不足 30min 按 30min 計 | 300元/樣 | |
XRR | 單一圖譜，30min 以?xún)?；掃?時(shí)間大于 30min，延長(cháng)時(shí)間按240 元 /30min計，不足30min 按 30min 計 | 300元/樣 | |
GID | 單一圖譜，30min 以?xún)?；掃?時(shí)間大于 30min，延長(cháng)時(shí)間按240 元 /30min計，不足30min 按 30min 計 | 300元/樣 | |
Phi Scan | Phi 掃描單一圖譜，30min 以 內；掃描時(shí)間大于30min，延長(cháng)時(shí)間按 240元/30min計，不足 30min 按 30min 計 | 300元/樣 | |
RSM | 單點(diǎn)倒易空間 mapping 單一圖譜，30min 以?xún)?；掃描時(shí)間 大于 30min，延長(cháng)時(shí)間按240元/30min計，不足30min 按 30min 計 | 400元/樣 | |
低溫測試 | 包含 2 個(gè)溫度點(diǎn)，第二點(diǎn)后， 240 元/ 測試點(diǎn)；低溫測試液氮另加30元/時(shí) | 900元/樣 |
高分辨薄膜X射線(xiàn)衍射儀檢測
儀器功能特點(diǎn)：
1- 高效的6KW TXS-HE轉靶光源，強度是封閉靶的5倍；
2- 入射光路三光路自動(dòng)切換系統：粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路；高分辨光路：高分辨毛細管透射、反射、外延薄膜高分辨；
3- 探測器的開(kāi)口大，適合測試速度快原位；配置準直器后開(kāi)展二維衍射實(shí)時(shí)分析，還原原位二維信息；配備的高低溫系統可實(shí)時(shí)檢測反應中結構的演變過(guò)程；
4- 原位充放電、原位電化學(xué)附件更是快速準確地追溯揭示了phase transformation過(guò)程。
應用范圍：
原位高低溫附件可以在材料合成過(guò)程中來(lái)觀(guān)察材料結構變化，探索材料合成條件；也可以用來(lái)探測充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應的結構變化，這對探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一，即材料結構變化引起的安全問(wèn)題是一種重要的手段；
科研支撐
變溫物相分析
變溫過(guò)程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動(dòng)力學(xué)分析
分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應物相分析。
產(chǎn)業(yè)支撐
藥物作用機理及動(dòng)力學(xué)分析、藥物理化性質(zhì)及穩定性分析。
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