原位X射線(xiàn)衍射儀檢測
項目 | 細則 | 收費 | 說(shuō)明 |
2Theta/Omega、 XRR、GID | 薄膜樣品：每樣品測試不超 過(guò) 30 min；掃描時(shí)間大于 30min，延長(cháng)時(shí)間按240 元/30min收費，不足30min 按 30min 計 | / | 1.長(cháng)時(shí)間數據手機（大于5h）、復雜樣品等特殊測試，價(jià)格需面議； 2.原位測試需提供測試方法 |
高溫測試 | 室溫至 1100℃，包含 2 個(gè)溫 度點(diǎn)，第二點(diǎn)后， 240元/測 試點(diǎn) (校外 240 元/測試點(diǎn)) | / | |
中低溫測試 | -180 至 450℃，多溫度點(diǎn)測試 時(shí)第三個(gè)溫度起，以 240 元/ 測試點(diǎn)計，低溫測試液氮另加 30 元/時(shí) | / | |
低溫測試 | 溫度起點(diǎn)低于-180℃，低至 12K，多溫度點(diǎn)測試時(shí)第三個(gè) 溫度起，以 240元/測試點(diǎn)計 | / | |
電池充放電測試 | 變溫范圍：-25℃~+80℃， Peltier 變溫，包含 2 個(gè)測試 點(diǎn)，第二點(diǎn)后， 240 元/測試點(diǎn) | / | |
原位電化學(xué)測試 | 包含 2 個(gè)測試點(diǎn)，第二測試點(diǎn) 以后， 240 元/測試點(diǎn) | / |
原位X射線(xiàn)衍射儀檢測.
儀器功能特點(diǎn)：
1- 高效的6KW TXS-HE轉靶光源，強度是封閉靶的5倍；
2- 入射光路三光路自動(dòng)切換系統：粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路；高分辨光路：高分辨毛細管透射、反射、外延薄膜高分辨；
3- 探測器的開(kāi)口大，適合測試速度快原位；配置準直器后開(kāi)展二維衍射實(shí)時(shí)分析，還原原位二維信息；配備的高低溫系統可實(shí)時(shí)檢測反應中結構的演變過(guò)程；
4- 原位充放電、原位電化學(xué)附件更是快速準確地追溯揭示了phase transformation過(guò)程。
應用范圍：
原位高低溫附件可以在材料合成過(guò)程中來(lái)觀(guān)察材料結構變化，探索材料合成條件；也可以用來(lái)探測充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應的結構變化，這對探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一，即材料結構變化引起的安全問(wèn)題是一種重要的手段；
科研支撐
變溫物相分析
變溫過(guò)程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動(dòng)力學(xué)分析
分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應物相分析。
產(chǎn)業(yè)支撐
藥物作用機理及動(dòng)力學(xué)分析、藥物理化性質(zhì)及穩定性分析。
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