簡(jiǎn)介:
GCIB-40 離子源系統是一種40 kV氣體團簇離子束,產(chǎn)生團簇離子聚焦束,用于需要對分子離子敏感的分析應用。
GCIB 40在較大程度地減少碎片和從表面去除完整分子方面具有優(yōu)異的處理能力。在40千伏電壓下工作的GCIB 40提供了優(yōu)異的電離產(chǎn)率,進(jìn)一步增強了分子信號。
GCIB-40 離子源系統具有可選擇的簇大小,從單體到10000多個(gè),斑點(diǎn)大小小于3µm,是分析完整分子離子的強大工具,具 有高空間分辨率。
可在J105 SIM上使用,或作為選定第三方儀器的升級。請與我們聯(lián)系以獲取更多信息。
主要參數:
主要應用 | 分析 |
光斑尺寸 | 3 µm |
掃描范圍 | 0.9 x 0.9 mm |
能耗范圍 | 10 – 40 kV |
電流范圍 | 200 nA |
法蘭至機頭長(cháng)度 | 168 ± 5 mm |
推薦工作距離 | 25 mm |
電源裝置 | 6U x 19’’ rack mountable unit |
電源要求 | 110-240VAC 13A 50/60Hz |
軟件要求 | PC running Windows 10 or later |
集成法蘭規格 | NW 63 CF |
特點(diǎn):
◇ 40 kV氣體團簇離子束,光斑尺寸為3µm;
◇ 實(shí)時(shí)集群測量和調整;
◇ 從單體到>10000的可選簇;
◇ 使用一系列氣體運行,包括Ar、CO2、Ar/CO2混合氣體;
◇ 水源團簇升級可用;
應用技術(shù):
由于離子束和分子信號的丟失,有機樣品的SIMS分析通 常會(huì )導致碎片。使用GCIB,可以減少損傷,以便對材料進(jìn)行分析和深度剖面。
然而,在近束能量(<40 kV)下,GCIB的二次離子產(chǎn)額可能較低。在更高的能量下操作會(huì )產(chǎn)生更高的二次離子產(chǎn)率,同時(shí)仍然保持低損傷特性。
下圖顯示了在分析有機樣品時(shí),離子產(chǎn)額如何與束流能量成比例。盡管一次離子劑量保持不變,但來(lái)自Irganox 1010薄膜的二次離子信號從20kV到40kV一次束能量增加了五倍以上。 同時(shí),在所有的光束能量中,碎片幾乎保持不變。
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