發(fā)射掃描電鏡SEM相關(guān)檢測
項目 | 細則 | 收費 | 說(shuō)明 |
僅形貌觀(guān)察 | 每個(gè)樣品*20min，超出時(shí)間將按照每20min一個(gè)樣計算；樣限取5張照片/樣 | / | / |
僅元素分析測試 | EDS元素分析/分布包括：點(diǎn)分析（限3點(diǎn)）；線(xiàn)分析；面分析 | / | / |
形貌觀(guān)察和元素分析 | SEM每個(gè)樣品限取5張照片； EDS元素分析/分布包括； 點(diǎn)分析（限3點(diǎn)）； 線(xiàn)分析；面分析； | / | / |
EBSD | / | / | 制樣收費面議 |
STEM | / | / | / |
冷臺、熱臺、WetSTEM原位觀(guān)察 | 需要設計試驗方案，價(jià)格面議。 | / | / |
鍍金 | 鍍層為Au 5nm | / | / |
鍍鉑 | 鍍層為Pt 5nm | / | / |
發(fā)射掃描電鏡SEM相關(guān)檢測
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列，采用蔡司Gemini鏡筒，具有高品質(zhì)的成像和優(yōu)質(zhì)的分析能力，可選配備多種探測器，以滿(mǎn)足顆粒物、納米結構、薄膜樣品等各種不同的應用需求。EDS幾何設計可實(shí)現高性能的元素分析，無(wú)論哪種樣品適用范圍廣，且均可獲得準確且可重復的分析結果。
[ 產(chǎn)品特點(diǎn) ]1. 靈活的探測手段獲取高分辨的圖像2. 智能高效的工作流程3. 高性能的分析系統4. 可擴展拉曼光譜成像5. *的Gemini鏡筒設計-提升光學(xué)性能的同時(shí)，降低靜電場(chǎng)與磁場(chǎng)對樣品的影響
日立掃描電鏡
該分析用掃描電子顯微鏡適合用于研究大件，較重，較高的樣品。
▲樣品直徑達300mm?！捎^(guān)察范圍直徑達203mm?！蓪Ω哌_110mm的樣品進(jìn)行觀(guān)察和能譜分析?！ㄓ眯徒涌诓季譂M(mǎn)足各種分析用途。
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