弗萊貝格PIDcon bifacial｜雙面電池的可逆與不可逆PID快速測試解決方案

論文來(lái)源：K. Sporleder et al., Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells

部分摘要：

      雙面 PERC 電池背面PID會(huì )導致嚴重的功率損失。與單面 PERC 太陽(yáng)能電池相比，可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導衰退（PID-c）。研究表明，一個(gè)可靠的評估太陽(yáng)能電池功率損失的方法需要一種改進(jìn)的 PID 測試方法，需要在高壓測試上附加光照。此外，還需要在測試方案中加入恢復步驟來(lái)將可逆 PID-p 與不可逆 PID-c 造成損傷的區分開(kāi)來(lái)。退化程度和 PID-p 和 PIC-c 的貢獻敏感地依賴(lài)于所研究的太陽(yáng)能電池。因此，在雙面 PERC 電池的 PID 測試方案中需包括 PID 高壓期間的附加光照和恢復步驟。

相對于每個(gè)單獨模塊的初始狀態(tài)，背面Isc 值的變化情況

       比較 1 個(gè)太陽(yáng)和0.1 個(gè)太陽(yáng)的 I–V 測量，可以觀(guān)察到，這兩種方法之間有很強的數量相關(guān)性。觀(guān)察到的參數變化與用于 I–V 測量的光照強度無(wú)關(guān)。

      采用 0.1 太陽(yáng)光源的測試裝置可同樣適用于 PID 階段和表征階段。A （優(yōu)化電池）模塊和 S（標準電池） 模塊之間的另一個(gè)明顯區別是恢復行為。對于 A 模塊，Isc 值在恢復步驟中幾乎恢復（上圖右中的黑色和紅色條）。這意味著(zhù)，所觀(guān)察到的 A 模塊背面的衰退大部分是可逆的，因此與PID-p 有關(guān)。與此相反，S 模塊在恢復階段只顯示很小的 Isc 參數的變化。因此，在這種情況下，PID 幾乎是不可逆的，與 PID-c 有關(guān)。

      綜上所述，電位誘導衰退（PID）對雙面太陽(yáng)能電池的背面有很大的影響。有兩種不同的PID 機制， 可逆極化相關(guān) PID-p 和不可逆腐蝕相關(guān) PID-c。一個(gè)PID測試與4小時(shí)總測試時(shí)間適合于評估微型模塊的背面PID靈敏度以及區分可逆PID- p 和不可逆 PID-c。

      PID 測試流程需要滿(mǎn)足兩個(gè)條件：首先，測試過(guò)程同時(shí)需要實(shí)施光照，以防止 PID 結果的過(guò)高或過(guò)低估計。第二，需要一個(gè)恢復步驟來(lái)區分 PID-c 和 PID-p。雖然 PID-p 敏感單元可以通過(guò)在光伏電站施加反向電壓來(lái)恢復，對 PID-c 敏感的太陽(yáng)能電池將遭受永遠不可逆的功率損失。因此，我們需要一種能夠測試雙面電池PID的相應設備，結合所需的高壓測試條件和原位 PID 的跟蹤技術(shù)，滿(mǎn)足以上各種實(shí)驗條件的需求。

更多文獻信息，請查閱：

K. Sporleder et al., Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells

https://www.sciencedirect。。ｃｏｍ/science/article/abs/pii/S0927024820303548?via=ihub

弗萊貝格儀器與德國Fraunhofer CSP公司合作開(kāi)發(fā)了一種可作為商業(yè)應用的臺式太陽(yáng)能電池和微型模塊的電勢誘導衰退控制的測量解決方案（PIDcon bifacial）。

臺式雙面電池PID測試儀：

●   根據IEC 62804-TS標準方法
●   易于使用的臺式設備
●   夠測量c-Si太陽(yáng)能電池和微型模塊
●   無(wú)需氣候室
●   不需要電池層壓
●   測量速度：4小時(shí)(一般)
●   可測量參數：分流電阻、功率損失、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
●   太陽(yáng)能電池可以通過(guò)EL等進(jìn)行研究
●   基于IP的系統支持在世界任何地方進(jìn)行遠程操作和技術(shù)支持